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1.
出版社: 西安电子科技大学出版社   出版日期: 2014.1
文献类型: 图书 , 索书号: TN911.7/52
2.
著者: 巴尔
出版社: 科学出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书 , 索书号: TN402/19
3.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书 , 索书号: TN45/1
4.
著者: 李刚
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书 , 索书号: TP332/66
5.
著者: 郭一娜
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2015.12
文献类型: 图书 , 索书号: TN911.7/116
6.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN911.7/139
7.
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 2012.8
文献类型: 图书 , 索书号: TN911.7/104
8.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2005.08
文献类型: 图书 , 索书号: TN47/19
9.
著者: 陈之炎
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2023
文献类型: 图书 , 索书号: TN410.2/219
10.
现代集成电路测试技术 已借1次.
出版社: 化学工业出版社   出版日期: 2005.12
文献类型: 图书 , 索书号: 2